Основной контент книги Reliability Wearout Mechanisms in Advanced CMOS Technologies
Mətn PDF
Həcm 642 səhifələri
Reliability Wearout Mechanisms in Advanced CMOS Technologies
müəlliflər
rolf-peter vollertsen,
jordi sune
385,56 ₼
10% endirim hədiyyə edin
Bu kitabı tövsiyə edin və dostunuzun alışından 38,56 ₼ əldə edin.
Kitab haqqında
This invaluable resource tells the complete story of failure mechanisms—from basic concepts to the tools necessary to conduct reliability tests and analyze the results. Both a text and a reference work for this important area of semiconductor technology, it assumes no reliability education or experience. It also offers the first reference book with all relevant physics, equations, and step-by-step procedures for CMOS technology reliability in one place. Practical appendices provide basic experimental procedures that include experiment design, performing stressing in the laboratory, data analysis, reliability projections, and interpreting projections.
Janr və etiketlər
Daxil olun, kitabı qiymətləndirmək və rəy bildirmək üçün
Kitab Rolf-Peter Vollertsen, Jordi Sune «Reliability Wearout Mechanisms in Advanced CMOS Technologies» — saytda onlayn oxuyun. Şərh və rəylərinizi qeyd edin, sevimlilərinizi seçin.
Yaş həddi:
0+Litresdə buraxılış tarixi:
26 avqust 2019Həcm:
642 səh. ISBN:
9780470455258Ümumi ölçü:
8.2 МБSəhifələrin ümumi sayı:
642Müəllif hüququ sahibi:
John Wiley & Sons Limited