Основной контент книги Методы исследования материалов и структур в электронике. Рентгеновская дифракционная микроскопия

Həcm 94 səhifə

2006 il

Методы исследования материалов и структур в электронике. Рентгеновская дифракционная микроскопия

müəlliflər

0,0

8,42 ₼

10% endirim hədiyyə edin

Bu kitabı tövsiyə edin və dostunuzun alışından 0,85 ₼ əldə edin.

Kitab haqqında

В курсе лекций изложены основы динамической теории, геометрические аспекты формирования изображений и основные положения дифракционной теории формирования контраста на дефектах в разных схемах дифракции: схема отражения по Брэггу и Лауэ. Приведен качественный анализ характера контраста на дефектах различного типа. Для более полного усвоения материала приводится большой объем иллюстраций.

Janr və etiketlər

Digər dərsliklər

Materialşünaslıq

Daxil olun, kitabı qiymətləndirmək və rəy bildirmək üçün

Kitab Владимира Бублика, Андрея Мильвидского «Методы исследования материалов и структур в электронике. Рентгеновская дифракционная микроскопия» — saytda onlayn oxuyun. Şərh və rəylərinizi qeyd edin, sevimlilərinizi seçin.

Yaş həddi:

Litresdə buraxılış tarixi:

28 mart 2018

Yazılma tarixi:

2006

Həcm:

94 səh.

Ümumi ölçü:

8.8 МБ

Səhifələrin ümumi sayı:

Müəllif hüququ sahibi:

МИСиС