10% endirim hədiyyə edin
Bu kitabı tövsiyə edin və dostunuzun alışından 0,76 ₼ əldə edin.
mətnPDF
Həcm 94 səhifələri
2006 il
Методы исследования материалов и структур в электронике. Рентгеновская дифракционная микроскопия
7,50 ₼
Kitab haqqında
В курсе лекций изложены основы динамической теории, геометрические аспекты формирования изображений и основные положения дифракционной теории формирования контраста на дефектах в разных схемах дифракции: схема отражения по Брэггу и Лауэ. Приведен качественный анализ характера контраста на дефектах различного типа. Для более полного усвоения материала приводится большой объем иллюстраций.
Janr və etiketlər
Rəy bildirmək
Giriş, kitabı qiymətləndirmək və rəy bildirmək
Kitab Владимира Бублика, Андрея Мильвидского «Методы исследования материалов и структур в электронике. Рентгеновская дифракционная микроскопия» — saytda onlayn oxuyun. Şərh və rəylərinizi qeyd edin, sevimlilərinizi seçin.
Yaş həddi:
0+Litresdə buraxılış tarixi:
28 mart 2018Yazılma tarixi:
2006Həcm:
94 səh. Ümumi ölçü:
8.8 МБSəhifələrin ümumi sayı:
94Müəllif hüququ sahibi:
МИСиС
