Читайте только на Литрес

Kitab fayl olaraq yüklənə bilməz, yalnız mobil tətbiq və ya onlayn olaraq veb saytımızda oxuna bilər.

Основной контент книги ESD Testing. From Components to Systems
Mətn PDF

Kitabın müddəti 324 səhifə

0+

ESD Testing. From Components to Systems

Читайте только на Литрес

Kitab fayl olaraq yüklənə bilməz, yalnız mobil tətbiq və ya onlayn olaraq veb saytımızda oxuna bilər.

227,92 ₼
10% endirim hədiyyə edin
Bu kitabı tövsiyə edin və dostunuzun alışından 22,80 ₼ əldə edin.

Kitab haqqında

With the evolution of semiconductor technology and global diversification of the semiconductor business, testing of semiconductor devices to systems for electrostatic discharge (ESD) and electrical overstress (EOS) has increased in importance. ESD Testing: From Components to Systems updates the reader in the new tests, test models, and techniques in the characterization of semiconductor components for ESD, EOS, and latchup. Key features: Provides understanding and knowledge of ESD models and specifications including human body model (HBM), machine model (MM), charged device model (CDM), charged board model (CBM), cable discharge events (CDE), human metal model (HMM), IEC 61000-4-2 and IEC 61000-4-5. Discusses new testing methodologies such as transmission line pulse (TLP), to very fast transmission line pulse (VF-TLP), and future methods of long pulse TLP, to ultra-fast TLP (UF-TLP). Describes both conventional testing and new testing techniques for both chip and system level evaluation. Addresses EOS testing, electromagnetic compatibility (EMC) scanning, to current reconstruction methods. Discusses latchup characterization and testing methodologies for evaluation of semiconductor technology to product testing. ESD Testing: From Components to Systems is part of the authors’ series of books on electrostatic discharge (ESD) protection; this book will be an invaluable reference for the professional semiconductor chip and system-level ESD and EOS test engineer. Semiconductor device and process development, circuit designers, quality, reliability and failure analysis engineers will also find it an essential reference. In addition, its academic treatment will appeal to both senior and graduate students with interests in semiconductor process, device physics, semiconductor testing and experimental work.

Janr və etiketlər

Daxil olun, kitabı qiymətləndirmək və rəy bildirmək üçün
Kitab «ESD Testing. From Components to Systems» — saytda onlayn oxuyun. Şərh və rəylərinizi qeyd edin, sevimlilərinizi seçin.
Yaş həddi:
0+
Litresdə buraxılış tarixi:
13 aprel 2018
Həcm:
324 səh.
ISBN:
9781118707142
Ümumi ölçü:
11 МБ
Səhifələrin ümumi sayı:
324
Müəllif hüququ sahibi:
John Wiley & Sons Limited
Audio
Средний рейтинг 4 на основе 23 оценок
Audio
Средний рейтинг 4,2 на основе 878 оценок
Mətn, audio format mövcuddur
Средний рейтинг 4,8 на основе 1177 оценок
Audio
Средний рейтинг 4,6 на основе 960 оценок
Mətn
Средний рейтинг 4,9 на основе 165 оценок
Audio
Средний рейтинг 4,8 на основе 5112 оценок
Mətn, audio format mövcuddur
Средний рейтинг 4,7 на основе 7055 оценок
Mətn
Средний рейтинг 4,6 на основе 226 оценок
Audio
Средний рейтинг 4,8 на основе 291 оценок
Mətn PDF
Средний рейтинг 0 на основе 0 оценок
Mətn PDF
Средний рейтинг 0 на основе 0 оценок
Mətn PDF
Средний рейтинг 0 на основе 0 оценок
Mətn PDF
Средний рейтинг 0 на основе 0 оценок
Mətn PDF
Средний рейтинг 2 на основе 1 оценок
Mətn PDF
Средний рейтинг 0 на основе 0 оценок
Mətn PDF
Средний рейтинг 5 на основе 1 оценок