10% endirim hədiyyə edin
Bu kitabı tövsiyə edin və dostunuzun alışından 0,26 ₼ əldə edin.
Основной контент книги Основы технологии электронной компонентной базы. Методы контроля характеристик материалов в технологических процессах получения тонкопленочных материалов
Mətn PDF
Həcm 43 səhifə
2013 il
Основы технологии электронной компонентной базы. Методы контроля характеристик материалов в технологических процессах получения тонкопленочных материалов
2,58 ₼
Kitab haqqında
В лабораторном практикуме излагаются теоретические основы технологических процессов роста полупроводниковых материалов и методы контроля их электрофизических и структурных параметров. Материал практикума соответствует учебному плану курса «Основы технологии электронной компонентной базы».
Janr və etiketlər
Daxil olun, kitabı qiymətləndirmək və rəy bildirmək üçün
Kitab Дмитрия Крутогина, Олега Рабиновича «Основы технологии электронной компонентной базы. Методы контроля характеристик материалов в технологических процессах получения тонкопленочных материалов» — saytda onlayn oxuyun. Şərh və rəylərinizi qeyd edin, sevimlilərinizi seçin.
Yaş həddi:
0+Litresdə buraxılış tarixi:
29 mart 2018Yazılma tarixi:
2013Həcm:
43 səh. Ümumi ölçü:
748 КБSəhifələrin ümumi sayı:
43Müəllif hüququ sahibi:
МИСиС
