Читайте только на Литрес

Kitab fayl olaraq yüklənə bilməz, yalnız mobil tətbiq və ya onlayn olaraq veb saytımızda oxuna bilər.

Основной контент книги Основы технологии электронной компонентной базы. Методы контроля характеристик материалов в технологических процессах получения тонкопленочных материалов

Основы технологии электронной компонентной базы. Методы контроля характеристик материалов в технологических процессах получения тонкопленочных материалов

Həcm 43 səhifələri

2013 il

Основы технологии электронной компонентной базы. Методы контроля характеристик материалов в технологических процессах получения тонкопленочных материалов

müəlliflər

Читайте только на Литрес

Kitab fayl olaraq yüklənə bilməz, yalnız mobil tətbiq və ya onlayn olaraq veb saytımızda oxuna bilər.

2,53 ₼

10% endirim hədiyyə edin

Bu kitabı tövsiyə edin və dostunuzun alışından 0,26 ₼ əldə edin.

Kitab haqqında

В лабораторном практикуме излагаются теоретические основы технологических процессов роста полупроводниковых материалов и методы контроля их электрофизических и структурных параметров. Материал практикума соответствует учебному плану курса «Основы технологии электронной компонентной базы».

Janr və etiketlər

MaterialşünaslıqTəcrübələr

Daxil olun, kitabı qiymətləndirmək və rəy bildirmək üçün

Kitab Дмитрия Крутогина, Олега Рабиновича «Основы технологии электронной компонентной базы. Методы контроля характеристик материалов в технологических процессах получения тонкопленочных материалов» — saytda onlayn oxuyun. Şərh və rəylərinizi qeyd edin, sevimlilərinizi seçin.

Yaş həddi:

Litresdə buraxılış tarixi:

29 mart 2018

Yazılma tarixi:

2013

Həcm:

43 səh.

Ümumi ölçü:

748 КБ

Səhifələrin ümumi sayı:

Müəllif hüququ sahibi:

МИСиС