Yalnız Litres-də oxuyun

Kitab fayl olaraq yüklənə bilməz, yalnız mobil tətbiq və ya onlayn olaraq veb saytımızda oxuna bilər.

Основной контент книги Основы технологии электронной компонентной базы. Методы контроля характеристик материалов в технологических процессах получения тонкопленочных материалов
Mətn PDF

Həcm 43 səhifə

2013 il

0+

Основы технологии электронной компонентной базы. Методы контроля характеристик материалов в технологических процессах получения тонкопленочных материалов

müəlliflər
Дмитрий Крутогин,
Олег Рабинович
PDF
0,0
Kitabı dəyərləndirin
0
Rəy bildirmək
Kitab rus dilində
Yalnız Litres-də oxuyun

Kitab fayl olaraq yüklənə bilməz, yalnız mobil tətbiq və ya onlayn olaraq veb saytımızda oxuna bilər.

2,47 ₼

Kitab haqqında

В лабораторном практикуме излагаются теоретические основы технологических процессов роста полупроводниковых материалов и методы контроля их электрофизических и структурных параметров. Материал практикума соответствует учебному плану курса «Основы технологии электронной компонентной базы».

Daxil olun, kitabı qiymətləndirmək və rəy bildirmək üçün
Книга Дмитрия Крутогина, Олега Рабиновича «Основы технологии электронной компонентной базы. Методы контроля характеристик материалов в технологических процессах получения тонкопленочных материалов» — читать онлайн на сайте. Оставляйте комментарии и отзывы, голосуйте за понравившиеся.
Yaş həddi:
0+
Litresdə buraxılış tarixi:
29 mart 2018
Yazılma tarixi:
2013
Həcm:
43 səh.
Ümumi ölçü:
748 КБ
Səhifələrin ümumi sayı:
43
Müəllif hüququ sahibi:
МИСиС

Müəllifin digər kitabları